Лазерный дифракционный анализатор размера частиц LS 13 320 XR

LS 13 320 XR - инструмент, который выводит лазерный дифракционный анализ размер частиц на новый уровень. Благодаря усовершенствованной технологии PIDS он характеризуется высокой разрешающей способностью, расширенным динамическим диапазоном измерений и предоставляет самые точные данные по распределению размеров частиц в сравнении с аналогичными инструментами.

Подобно LS 13 320 анализатор LS 13 320 XR позволяет быстро получать надежные результаты и оптимизировать эффективность рабочих процессов. А некоторые существенные улучшения помогают обнаруживать малейшие отличия, которые способны повлиять на результаты анализа данных.

  • Расширенный диапазон прямых измерений: 10 нм – 3 500 мкм
  • Ускоренный контроль качества: автоматическое выявление непригодных результатов
  • Оптимизированное ПО упрощает создание методов для стандартизованных измерений
  • Метод рекомендован в XIII издании Российской Фармакопеи ОФС.1.2.1.0008.15 "Определение распределения частиц по размеру методом лазерной дифракции света"
  • Метод определен стандартом ISO 13320 "Гранулометрический анализ. Методы лазерной дифракции"

Документация и указания по применению




Choose a LS 13 320 XR Model

Ключевые характеристики

Возможности измерений

  • Диапазон измерений: 10 нм – 3 500 мкм
  • 126 детекторов прямого светорассеяния
  • 6 детекторов PIDS
  • 2 модуля подачи образцов: для порошков и жидкостей
  • Среднее время анализа: 30 – 90 сек

Технологии

  • Прямое светорассеяние под малыми углами
  • Технология PIDS: анализ различий в паттернах рассеяния вертикально и горизонтально поляризованного света 3-х длин волн (450, 600 и 900 нм) под 6 углами

Простое ПО

  • Автоматический контроль качества
  • Запуск измерений готовым методом за 3 клика или менее
  • Одинаково доступно как эксперту, так и новичку
  • Сравнение с предыдущими результатами за 1 клик
  • Самодиагностика во время измерений и информирование о результатах
  • Упрощенная настройка методов для стандартизованных измерений

Защита данных

  • Настраиваемая система защиты
  • 4 уровня доступа
  • Соответствие требованиям 21 CFR Part 11


Технические характеристики

Light Source Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range 10 nm | 3,500 µm|
Fluid Compatibility Emulsions, Suspensions, Powders
Reporting PDF, Excel
Item Specifications Referenced B98100

Документация

  • Filter by:


Техническая документация