Лазерный дифракционный анализатор размера частиц LS 13 320 XR

LS 13 320 XR - инструмент, который выводит лазерный дифракционный анализ размер частиц на новый уровень. Благодаря усовершенствованной технологии PIDS он характеризуется высокой разрешающей способностью, расширенным динамическим диапазоном измерений и предоставляет самые точные данные по распределению размеров частиц в сравнении с аналогичными инструментами.

Подобно LS 13 320 анализатор LS 13 320 XR позволяет быстро получать надежные результаты и оптимизировать эффективность рабочих процессов. А некоторые существенные улучшения помогают обнаруживать малейшие отличия, которые способны повлиять на результаты анализа данных.

  • Расширенный диапазон прямых измерений: 10 нм – 3 500 мкм
  • Ускоренный контроль качества: автоматическое выявление непригодных результатов
  • Оптимизированное ПО упрощает создание методов для стандартизованных измерений
  • Метод рекомендован в XIII издании Российской Фармакопеи ОФС.1.2.1.0008.15 "Определение распределения частиц по размеру методом лазерной дифракции света"
  • Метод определен стандартом ISO 13320 "Гранулометрический анализ. Методы лазерной дифракции"

Документация и указания по применению

Ключевые характеристики

Возможности измерений

  • Диапазон измерений: 10 нм – 3 500 мкм
  • 126 детекторов прямого светорассеяния
  • 6 детекторов PIDS
  • 2 модуля подачи образцов: для порошков и жидкостей
  • Среднее время анализа: 30 – 90 сек

Технологии

  • Прямое светорассеяние под малыми углами
  • Технология PIDS: анализ различий в паттернах рассеяния вертикально и горизонтально поляризованного света 3-х длин волн (450, 600 и 900 нм) под 6 углами

Простое ПО

  • Автоматический контроль качества
  • Запуск измерений готовым методом за 3 клика или менее
  • Одинаково доступно как эксперту, так и новичку
  • Сравнение с предыдущими результатами за 1 клик
  • Самодиагностика во время измерений и информирование о результатах
  • Упрощенная настройка методов для стандартизованных измерений

Защита данных

  • Настраиваемая система защиты
  • 4 уровня доступа
  • Соответствие требованиям 21 CFR Part 11

Выберите модель

Tech Docs Part Number Product Name Description Particle Size Analysis Range Sample Materials List Price Buy
B98105
Analyzes samples suspended in aqueous or non-aqueous diluents
10 nm | 2,000 µm|
Emulsions, Suspensions

-

B98103
Results from 400 nm - 3,500 µm for all types of homogeneous and heterogeneous samples that can be disperesed dry
400 nm | 3,500 µm|
Powders

-

B98100
Particle size distribution measurement between 10 nm - 3,500 µm
10 nm | 3,500 µm|
Emulsions, Suspensions, Powders

-

Технические характеристики

Light Source Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range 10 nm | 3,500 µm|
Fluid Compatibility Emulsions, Suspensions, Powders
Reporting PDF, Excel
Item Specifications Referenced B98100

Документация

  • Filter by:

Техническая документация