LS 13 320 XR Particle Size Analyzer

For big improvements that help you spot small differences.

The LS 13 320 XR offers best-in-class particle size distribution data from advanced PIDS technology,* which enables high-resolution measurements and an expanded dynamic range. Like the LS 13 320, the XR analyzer provides fast, accurate results, and helps you streamline workflows to optimize efficiency. Some big improvements help you reliably spot small differences that can have a huge impact on your particle analysis data.

  • Direct measurement range from 10 nm – 3,500 µm
  • Automatically highlights pass/fail results for faster quality control
  • Enhanced software that simplifies method creation for standardized measurements

Documentation and Application Notes

 

Choose a Model

Tech Docs Part Number Product Name Weight Height Power Requirements List Price Buy
23.50|kg / 51.8086316134462|lb
49.53|cm / 19.5|in
6A at 90-125 VAC, 3 A at 220-240 VAC

-

-

Features

Spot Small Differences

  • Expanded measurement range: 10 nm – 3,500 µm
  • Laser diffraction plus advanced Polarization Intensity Differential Scattering, PIDS, technology enable high-resolution measurement & reporting of real data down to 10 nm
  • Provides accurate, reliable detection of multiple particle sizes in a single sample

Простое в использовании программное обеспечение

  • Автоматическая проверка прохождения/непрохождения испытания
  • Предварительно настроенные методы позволяют получить результаты за 3 или меньше нажатия на кнопку мыши
  • Упрощает работу анализатора для экспертов и начинающих пользователей
  • Совмещение полученных и сохраненных данных с помощью 1 нажатия
  • Интуитивная пользовательская диагностика информирует вас во время забора пробы
  • Упрощенное создание метода для стандартизованных измерений

Соответствие части 11 раздела 21 Свода федеральных нормативных актов США

  • Настраиваемая система безопасности для удовлетворения разнообразных потребностей
  • Выберите один из 4 уровней безопасности
  • Конфигурация с высокой степенью защиты поддерживает соответствие части 11 раздела 21 Свода федеральных нормативных актов США (нормативные акты FDA для электронных подписей/записей)

PIDS Technology* for Direct Detection of 10 nm Particles

  • 3 light wavelengths (450, 600, & 900 nm) irradiate samples with vertical & horizontal polarized light
  • Analyzer measures scattered light from samples over a range of angles
  • Differences between horizontally & vertically radiated light for each wavelength yield high-resolution particle size distribution data

 

Product Specifications

Light Source Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range 10 nm|3500µm|
Reporting PDF, Excel
Item Specifications Referenced B98100

Documentation

  • Filter by:

Technical Documents